X-200 的速度和性能可与其他品牌的高端分析仪相媲美或优于其他品牌的
高端分析仪。它使用高性能的 SDD 与高度优化的 X 射线管和探测器几何
形状相结合。X-200 凭借其速度和分析性能以及轻巧、小巧的外形设计，
正迅速成为废料处理和无损检测的首选。它适用于包括铝合金在内的每个
合金系列。对于地球化学应用，它提供了用于环境、探路者、勘探和采矿
的元素套件。其他可用的应用程序包括环境土壤、RoHS、贵金属、汽车
催化剂、涂层和 SciAps Empirical 应用程序，供想要测试其他类型材料并
生成自己的校准模型的用户使用。分析仪可以使用基本参数、康普顿归一
化（EPA 方法 6200）或用户定义的经验校准进行工厂校准。
X射线管：40 kV，Rh阳极（合金）或50 kV金阳极（地球化学，土 壤，RoHS等）。
检测速率：20 mm2 标准 SDD 和 DPP。125k cps，工作时间>90%
3.3 磅（含电池）
用于合金测试的 6-40kV、200uA Rh 阳极，用于大多数其他应用的 6-50kV、200uA Au 阳极。
基本参数。对于地球化学和环境。土壤应用程序，用户还可以选择“康普顿归一化”方法和/或使用经验得出的校准。
7.25 英寸 x 10.5 英寸 x 4.5 英寸
20毫米2硅漂移探测器（有效区域），135eV 分辨率 FWHM，5.95Mn K-α 线。
内部快门也是 316 不锈钢的，用于全自动校准和能级验证。
板载可充电锂离子电池，可充电在设备内部或与外部充电器，交流电源，热插拔功能（最大交换时间为 60 秒）。
6位滤光片轮，用于光束优化。
10°F 至 130°F，占空比为 25%
5 英寸彩色触摸屏智能手机型显示器 – PowerVR SGX540 3D 图形。
ARM Cortex -A9 双核 / 1.2GHz 内存：1GB DDR2 RAM，1GB NAND 结果 存储：8GB SD
受密码保护的用法（用户级别）和内部设置（管理员）。
Wifi、蓝牙、USB。与大多数设备的连接，包括 SciAps Profile Builder PC 软件。
14 位 ADC，数字化速率为 80 MSPS，8K 通道 MCA USB 2.0，用于向主机处理器进行高速数据传输 在 FPGA 中实现数字滤波，用于高吞吐量脉冲处理 50nS – 24uS 峰值时间
CE、RoHS、USFDA 注册、加拿大 RED 法案。
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